Mikroskop: Rozdiel medzi revíziami
Smazaný obsah Přidaný obsah
→Druhy mikroskopov: rozšírenie |
|||
Riadok 32:
* ''[[Stereoskopický mikroskop]]'' (binokulárny)''. Konštrukcia umožňuje sledovať obraz oboma očami.
* ''[[Metalografický mikroskop]]''. Mikroskopická vzorka je nepriehľadná, osvetlená zhora. Slúži na´mikroskopické sledovanie kovov a zliatin, viditeľné sú štruktúry kovov – zrná.
* ''[[Komparačný mikroskop]]''
* ''[[Ultramikroskop]]''. Obsahuje aparatúru, pomocou ktorej sa skúmaný materiál osvetľuje svetelným bodom umiestneným v pravých uhloch voči rovine objektívu s ohniskom priamo pod ním. Z ohybu svetla sa zisťuje prítomnosť veľmi malých čiastočiek, ktoré sú menšie ako rozlišovacia schopnosť mikroskopu.
* ''[[Fluorescenčný mikroskop]]''. Je založený na princípe, že niektoré látky (hlavne biologickej povahy) po absorpcii ultrafialového žiarenia vysielajú žiarenie väčšej vlnovej dĺžky. Skúmajú sa tiež prirodzene fluoreskujúce látky. V biológii sa využíva fluoreskujúca vlastnosť farbív viazaných na skúmané štruktúry buniek.
* ''[[Zrkadlový mikroskop]]''. Jeho objektív je tvorený zrkadlovou optikou.
* ''[[Polarizačný mikroskop|Polarizačný (petrografický) mikroskop]]''. Jeho optika obsahuje dva polarizačné prvky, skúmané [[výbrus]]y sa sledujú v lineárne polarizovanom svetle, čo umožňuje (polarizátor a analyzátor), tzv. nikoly.
* ''[[Fázovo kontrastný mikroskop]]'' slúži na pozorovanie živých buniek. Princíp spočíva v nerovnakej priepustnosti a lámaní sa lúčov, prechádzajúcich pozorovaným objektom. Dochádza tu ku fázovému posunu. Pomocou fázového mikroskopu sa sledujú detaily bunkových štruktúr.
* ''[[Interferenčný mikroskop]]''. Princíp je podobný ako pri fázovo kontrastnom mikroskope s tým rozdielom, že pomocou tohto mikroskopu môžeme získať kvantitatívne údaje ako hrúbka štruktúr, index lomu a pod. Zmena fázy vyvoláva zmenu zafarbenia (interferenčné pruhy).
* ''[[Elektrónový mikroskop]]''. Obraz vzniká dopadom elektrónov získaných odrazom alebo prechodom cez skúmanú látku na fluorescenčné tienidlo alebo na fotografickú platňu.
* ''[[Rastrový elektrónový mikroskop]] (SEM)''
* ''[[Riadkovací tunelový mikroskop]] (STM)''. Zisťuje presnú polohu jednotlivých atómov využívajúc [[Tunelový jav|kvantového tunelovania]].
== História ==
| |||